產(chǎn)品名稱:德國(guó)EPK MiniTest 2100 涂鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
德國(guó)EPK MiniTest 2100 涂鍍層測(cè)厚儀德國(guó)EPK公司 MiniTest1100/2100/3100/4100測(cè)厚儀用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):? 鋼鐵基體上的非磁性覆層? 有色金屬上的絕緣覆層? 絕緣基體上的有色金屬覆層
德國(guó)EPK MiniTest 2100 涂鍍層測(cè)厚儀
深圳市歐野電子有限公司德國(guó)EPK一級(jí)代理
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司
MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀
德國(guó)EPK公司 MiniTest1100/2100/3100/4100測(cè)厚儀用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
• 鋼鐵基體上的非磁性覆層
• 有色金屬上的絕緣覆層
• 絕緣基體上的有色金屬覆層
EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征:
EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù):
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | zui小曲率半徑 | zui小測(cè)量 | zui小基 | 探頭尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無(wú)限制 | φ17x80mm |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
FN1.6 0~1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
FN1.6P 0~1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭, 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 | |
FN2 0~2000μm,φ5mm 兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 | |
F05 0~500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) | |
F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
F3 0~3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 可用于較厚的覆層 | |
F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
F2/90 0~2000μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 | |
F10 0~10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層, 如玻璃、塑膠、混凝土等 | |
F20 0~20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層, 如玻璃、塑膠、混凝土等 | |
F50 0~50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 | |
N02 0~200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 | |
N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
N2 0~2000μm,φ5mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 | |
N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
N2/90 0~2000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭, 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 | |
N10 0~10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | |
N20 0~20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | |
N100 0~100mm,200mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | |
CN02 10~200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板 |
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